Profilometrie von additiv gefertigten rauhen Metallenoberflächen unter Verwendung von Fokusvariationsmikroskopie
In diesem Projekt wird ein Fokusvariationsmikroskop (FVM) konstruiert, mit dem die Flächentopographie und die Flächenstrukturparameter von Metall-additiv hergestellten rauen Oberflächen gemessen werden. Ein Ringlicht in Kombination mit koaxialer Beleuchtung wird untersucht, um aufgrund des hohen Unregelmäßigkeitsgrades der Oberflächen, insbesondere des Auftretens steiler Flanken, eine Rundumbeleuchtung zu erzielen. Die rekonstruierte Oberfläche weist durch lokale Fehler entstandene Mängel auf, die durch bestimmte Bereiche der bei der Tiefenabtastung aufgenommen defokussierten Bildern verursacht werden. Ein Algorithmus, der auf Autokorrelationsfunktionen bestimmter Bilder basiert, wird entwickelt, um diese Fehler zu beseitigen.