Rasterkraftmikroskop Dimension Icon (Bruker)
Die Rasterkraftmikroskopie (engl. Atomic Force Microscopy AFM) ist die Methode der Wahl, um Probenoberflächen mit hoher Auflösung (bis zu < 1 nm) zu charakterisieren. Neben Topographie und Rauheit, können auch Adhäsion, Reibung, sowie elektrisches Oberflächenpotential auf der Mikrometer- bis Nanometer-Skala untersucht werden. Das Bruker Dimension Icon Mikroskop eröffnet uns darüber hinaus den Zugang zu den nanomechanischen Eigenschaften von Materialoberflächen.
Wichtigste Merkmale
- Icon XYZ Closed-Loop Scanner mit Scanbereich 85 x 85 µm x 9 µm
- Nanoscope 6 Controller mit 8 simultanen Datenkanälen
- Probenpositionierungstisch 150 x 150 x 15 mm mit Lichtmikrokop
Zugang
Das Instrument soll über Kooperationen die Forschung weiterer Arbeitsgruppen unterstützen. Interessierten Wissenschaftler:innen der Universität Kassel wird unsere Vorlesung zur Vermittlung der AFM Grundlagen wärmsten empfohlen.
Auch für Messaufträge stehen wir gerne zur Verfügung.
Danksagung
Für ihre finanzielle Unterstützung bedanken wir uns herzlich bei der Universität Kassel und dem Land Hessen.