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Die Erfindung betrifft eine Diagnosevorrichtung zur Überprüfung der E/A-Logik bzw. -Zelle eines Microchips auf Fehler (SEU) und Defekte. Die Feh-lererkennung erfolgt dabei permanent durch innovative integrierte digitale Architekturen und überwacht digitale E/A-Einheiten in Echtzeit und erübrigt somit die Notwendigkeit von zeitintensiven und fehleranfälligen Software-lösungen. Die zum Patent angemeldete Lösung kann technologieunabhän-gig in jedes digitale Chip-Design integriert werden. Diese Technologie kann in digitalen Microchips / Microcontrollern, in sicherheitsgerichteten Microchips nach ISO 26262 / IEC 61508 eingesetzt werden. Weiterhin las-sen sich FPGA-Lösungen verbessern (auch bereits bestehende).

• Echtzeit Fehlererkennung
• Hardwarelösung ohne Diagnose-Softwareroutinen
• Diagnose in Echtzeit auch bei Kommunikationssignalen (SPI, I²C, UART, etc.) ohne Unterbrechung oder Beeinflussung der Kommuni-kation
• Digitale I/O überwachen ohne Software-Intervention
• Multiplex-fähige I/O in sicherheitsrelevanten Anwendungen einsetzen
• Eigendiagnosefähige Logik, minimaler Flächenverbrauch, einfach skalierbar für 2:1 / 3:1 / N:1 Multiplexing von digitalen E/A
• Implementierung technologieunabhängig direkt in VHDL / Verilog
• Chipflächen Einsparung

Dipl.-Ing. Ute Emde
Mail: ute.emde[at]uni-kassel[dot]de
Tel. 0561-8041985